扫描链

扫描链（英語：）是可测试性设计的一种实现技术。它通过植入移位寄存器，使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部触发器的信号值。

参考文献
  • Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. . Morgan Kaufmann. ISBN 978-0123705976.

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