熱電效應
热电效应(英語:)是一個由温差产生电压的直接转换,且反之亦然。简单的放置一个热电装置,当他们的两端有温差时会产生一个电压,而当一个电压施加于其上,他也会产生一个温差。这个效应可以用来产生电能、测量温度,冷却或加热物体。因为这个加热或制冷的方向决定于施加的电压,热电装置让温度控制变得非常的容易。
熱電效應 |
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原理
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一般来说,热电效应这个术语包含了三个分别经定义过的效应,赛贝克效应(Seebeck effect,由Thomas Johann Seebeck发现 。)、帕尔帖效应(Peltier effect,由Jean-Charles Peltier发现。),与汤姆森效应(Thomson effect,由威廉·汤姆孙发现)。在很多教科书上,热电效应也被称为帕尔帖-塞贝克效应(Peltier–Seebeck effect)。它同时由法国物理学家讓·查爾斯·佩爾蒂(Jean Charles Athanase Peltier)与爱沙尼亚裔德国物理学家 托马斯·约翰·塞贝克(Thomas Johann Seebeck)分別独立发现。 还有一个术语叫焦耳热,也就是說當一个电压通过一个阻抗物质上,即會產生熱,它是多少有关系的,尽管它不是一个普通的热电效应术语(由於热电裝置的非理想性,它通常被视为一个产生损耗的装置)。帕尔帖-塞贝克效应与汤姆孙效应是热力学可逆的,但是焦耳热是不可逆的。
塞贝克效应
德国物理学家托马斯·约翰·塞贝克于1821年发现,将二种不同金属各自的二端分别连接构成的回路,如果两种金属的兩個结点处温度不同,就会在这样的线路内发生电流。[1]这种现象称为赛贝克效应(Seebeck Effect)。
塞贝克发现,当两种不同金属组成闭合回路且兩结点处温度不同时,指南针的指针会发生偏转。于是他认为温差使金属产生了磁场。但是当时塞贝克并没有发现金属回路中的电流,所以他把这个现象叫做“热磁效应”。后来,丹麦物理学家汉斯·奥斯特重新研究了这个现象并称之为“热电效应”。
不同的金属导体(或半导体)具有不同的自由电子密度,当两种不同的金属导体相互接触时,在接触面上的电子就会扩散以消除电子密度的差异,在两块金属的另两个端点形成稳定的电压,电子的扩散速率与接触区的温度成正比。由此产生的电压通常每开尔文温差只有几微伏。 而不同溫度的相同金屬(或半导体)也具有不同的自由电子密度,所以只要维持金属兩端的温差,也能使电子持续扩散,在金属的两个端点形成稳定的电压。
不同的金属與半导体具有不同的塞貝克係數(所产生赛贝克效应大小不同),半導體與金屬的主因略有不同。半导体在不同的溫度下具有不同的载流子密度,當單一半导体兩端具有溫度差時,載子會扩散以消除密度的差异,因而造成電動勢。兩端的温度相差越大,则产生的赛贝克电位差越大。而金屬的自由电子密度與費米能階幾乎不會隨溫度改變,因此金屬的赛贝克效应遠小於半導體。金屬的赛贝克效应由電子的平均自由程來決定。若平均自由程隨溫度上升,則熱端的自由電子有較高的機會向冷端移動,此時的塞貝克係數為負值。反過來說,若電子的平均自由程隨溫度上升而下降,則冷端的自由電子有較高的機會流向熱端,塞貝克係數為正值。
在以下电路中,若電壓計兩端的溫度同為Tr:
由塞贝克效应产生的电压可以表示成:
SA和SB是金属A和B的塞貝克係數,T1和T2是两块金属结合处的温度。塞贝克系数取决于温度和材料的分子结构。如果塞贝克系数在实验的温度范围内接近常数,以上方程可以近似成:
將兩種不同的金屬連接,並在兩接點給予溫度差,兩種金屬會分別產生各自的温差电动势。选用适当的二种不同金属製成热电偶,利用赛贝克效应可以直接测量溫差,或者将金属的一端设定到已知温度来测另一端的温度。当几个温差电偶连接在一起时叫做热电堆,用来制造更大的电压。塞贝克效应还可以用来鉴定合金的成分:将未知金属和已知金属连接,并保持温度不变,根据测得的电压可以算出未知金属的塞贝克系数,从而判断它的材料。若使用相同的金屬形成迴路,則會因為溫差造成的電動勢互相抵銷而無法觀察到赛贝克效应。
帕尔帖效应
传统上有时称帕尔贴效应是塞贝克效应,但此说法并不严谨。
与塞贝克效应不同,帕尔贴效应可以产生在两种不同金属的交界面,或者一种多相材料的不同相界间,也可以产生在非匀质导体的不同浓度梯度范围内。
当对上述三种材料嵌入回路中并施加电流时,金属1会对金属2或相1对相2,或浓度点C1与C2间)产生放热或吸热反应。[2]
帕尔帖效应即為塞贝克效应的反效应,即当在两种金属回路中加入电源产生电势后,不同的金属接触点会有一个温差。
汤姆森效应
当电流在温度不均匀的导体中流过时,导体除产生不可逆的焦耳热之外,还要吸收或放出一定的热量(称为汤姆森热)。汤姆森效应(英語:)是英国物理学家威廉·汤姆森于1854年发现的:将一根导线通恒定电流,由于导线有电阻而发热。再将这根带电的导线的某小局部加热;使它产生温度梯度。这根导线就在原有发热的基础上,出现吸热或放热的现象。[3]或者反过来,当一根金属棒的两端温度不同时,金属棒两端会形成电势差。
一個金屬(或半導體)材料的帕爾帖係數並不是一個定值,也會隨著溫度而改變。在一個具有溫度梯度的導體中,每個位置都可以視為是具有不同帕爾帖係數的材料。當電流通過時,不同的位置會各自產生帕爾帖效應,造成局部的吸熱或放熱。由於金屬的熱導率較高,這些局部的吸收或放出的热能會分散至整個導體,因而造成導體整體的吸熱或放熱。吸热或放热要由恒定电流的方向和导线热梯度的方向而决定。这种现象称为汤姆森效应,汤姆森效应並不會在均匀温度的通电流导体中出现。
完整熱電方程式
參見:熱傳學物理#電子
真正的熱電裝置通常會涉及到多種上述效應的操作。我們可以用種一致而嚴謹的方式將塞貝克效應、帕尔帖效應和湯姆遜效應結合起來;同時包含焦耳加熱和普通熱傳導的影響。 如上所述,塞貝克效應會產生電動勢,進而得到電流方程[4]
為了描述帕尔帖效應和湯姆森效應,我們必須考慮能量流。如果溫度和電荷隨時間變化,則能量累積量的完整熱電方程式為[4]
是熱導率。第一項是傅里葉熱傳導定律,第二項表示電流攜帶的能量。第三項是從外部熱源輸入的熱量(如果適用的話)。
材料若達到穩態,那麼電荷和溫度就呈現穩定的分佈, 所以 和。利用這些事實和第二湯姆森關係(見下文),可以將熱方程簡化為
中間項是焦耳熱,最後一項包括帕尔帖效應 ( 在交界處的) 和湯姆森效應 (在熱梯度中的 )。結合塞貝克方程 ,該方法可用於求解複雜系統的穩態電壓分佈和溫度分佈。