电子测试设备
电子测试设备，也称自动测试设备，是指电子技术上用於檢測电子元件功能之完整性的相关设备仪器。设备通过产生信号，并捕捉元件的响应来检测元器件的品质。在半導體產業生產过程中，测试通常為積體電路製造最後的一道流程，以確保積體電路品質。广义的测试设备也包括万用表等基础测试设备。
ATE的用途
在所有电子元器件（）的制造过程中，都存在着去伪存真的需要，这种需要实际上就是一个测试过程。实现这种过程需要各种测试设备，这类设备就是所谓的（）。 这里所说的电子元器件（）包括类别，还包括分立的元件、器件。应用于前道工序（）和后道工序（）的各个环节，具体取决于工艺（）设计的要求。
ATE的作用
在元器件的工艺流程中，根据工艺的需要，存在着各种需要测试的环节。环节的存在目的是为了筛选残次品，以防止其进入下一道的工序，并由此减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握，这些参数可以是现实物理世界中的光、电、波、力学等各种参量，但是，目前大多数常见的是电子信号。设计工程师们要考虑的最多的，比如时间、相位、电压、电流等基本的电子学物理参数，这也就是所谓的信号处理。此外，比如，（等离子显示器）需要对发光部分功能进行试验，那么，就要对光学相关的参量测量了。
核心功能构造
通盘而论，两大部类：
- 核心测试构造：承袭于传统的测试技术，检测技术，自动的实施信号处理（电子信号测量）。针对不同的的测试提案不同，核心测试构造也会有所不同。
- 计算机控制构造：处理的速度和能力，取决于当时的计算机能力。
计算机技术事实上已经变成了通用技术了，对于一套来说，高指标的计算机不见得是最好的计算机，满足系统的需要，协调才是最好的标准。事实上，复杂的设备的价格，相对于先进的高指标的服务器价格来说，相当于巨人跟侏儒的关系了。
总体上来说，计算机技术的作用，控制系统的协调，控制信号的注入路径，控制数据的采集和处理等。换句话说，计算机对系统的硬件，软件的管理是双管齐下的——既当爹，又当妈，吃喝拉撒都要管。所以，通用计算机已经不太适合了，于是，历史上便产生了计算机技术。但是，这还是满足不了，高速、大量的要求，于是，专家们干脆打破了计算机的传统结构，甚至，制造出了专用的，专用的。这一切不过是在反复的印证一个简单的道理，是生产的需要牵引着技术的进步。
未来展望
当今，广泛地应用于半导体工艺流程的若干工序环节。在不远的将来，会瞄准量子机械（）的广大领域。激励和回读信号的种类的外延也会从以目前的电量为主，飞跃性的扩充到光学参量、流体（包括气体和液体）参量、位移参量等能够在装置内部演算的各种参量，可以是量子化了的参数，或者就是自然变量的本身（模拟参量）。